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哪些因素会导致Nand flash产生数据坏块

arima 2018-05-31 浏览量：4792

一般情况下 哪些因素会导致Nand flash产生数据坏块?

Nand flash经过预烧录FW，打到PBA上，然后上电测试不能正常开机。检测后发现Nand flash存在过多数据坏块。不是所有的Nand flash产生数据坏块，有一定比例。
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  • 1.太烫

    2.有磁环境

    3.超剧烈震动

    4.量子轰击

    5.烧录电压不稳

    6.光刻硅片工艺先进度

    7.外部力量压折

    8.上电浪涌

    9.如果量产良品率不够，建议系统编写时采用更稳固的方法，比如前面直接两遍自检测修复，除非坏块刚好坏引导才会不开机，这样不开机的概率小些

    • 发布于 2018-05-31
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其他答案 数量：9

  • Nand Flash产生坏块，有的原因是完全随机的，用久了就会，有的原因是人为导致的，如周围有强干扰源等。

    • 发布于2018-05-31
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  • 生产的nand flash是否来料正规？会不会买到二次利用的flash。

    在flash生产过程中会产生坏块，但是也是要经过检测后符合标准才出厂的。当flash某个区域被频繁擦除写入时，到了寿命点，就会产生坏块。

    当然，和软件也有关系，系统要检测哪里有flash坏块，避免重复再某区域擦写。

    • 发布于2018-05-31
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  • 静电，生产工艺等都有影响吧。当然本身出产也有一定的次品率


    • 发布于2018-05-31
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  • 1、焊接的时候温度过高

    2、买到的nand flash是二手货

    • 发布于2018-06-04
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  • EMC干扰，不正常使用，在读写时断电。对同一地址频繁的读写等等
    • 发布于2018-06-06
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  • flash芯片回潮是我遇到损坏最多的原因，有的供应商在存储芯片的仓库没有做防潮处理，导致芯片受潮，我们公司拿到一过SMT就废了，这种情况已经遇到不止三次
    • 发布于2018-06-09
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  • 1没有做掉电保护，突然的掉电使得没有完成保存，产生坏块

    2物理撞击，产生一些错位


    • 发布于2018-06-24
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  • 这个用就了就会坏的，排除寿命原因，高温，高静电，大电流，强磁厂，还有温湿度也影响内部电子的保存
    • 发布于2018-07-22
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