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怎么用STM32对外部flash进行回环读取测试

SMTF 2020-04-16 浏览量：686
怎么用STM32对外部flash进行回环读取测试
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  • 回环测试就是通过写入和读取后的数据进行回环对比，进行一个数据的测试效果，最简单的做法就是写入一段0XAAAAA，长度可以自己定义，就是010101的数据到flash中，然后再读取到这个数据，进行对比
    • 发布于 2020-04-19
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其他答案 数量：2
  • 先写入一段数据到外部flash，然后再读取数据到mcu内存，比对两段是数据，结果一样就说明没问题，不一样就说明外部flash有问题
    • 发布于2020-04-16
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  • 可以让STM32先向那个flash写入一串数据，再读出来，对比读出来的数据和写进去的
    • 发布于2020-04-30
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