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- 基于MarchC_算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统.pdf
资料描述
摘要: 为实现sＲam 芯片的单粒子翻转故障检测，基于labview 和fpga 设计了一套存储器测试系统: 故障监测端基于
labview 开发了可视化的测试平台，执行数据的采集、存储及结果分析任务，板卡测试端通过fpga 向参考sＲam 和待测sＲam 注入基于march c－ 算法的测试向量，通过ni 公司的hsdio－6548 板卡采集2 个sＲam 的数据，根据其比较结果判定seu 故障是否发生。该系统可以实时监测故障状态及测试进程，并且具有较好的可扩展性。
关键词: 仿真测试; 单粒子翻转; labview; march c－ 算法; sＲam
中图分类号: tn710－34 文献标识码: a 文章编号: 1005－9490( 2014) 05－0803－05
