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- 基于DSP和LabVIEW的1553B总线芯片测试系统的设计与实现.pdf
资料描述
摘要：１５５３Ｂ芯片测试系统由上位机和下位机两部分构成，下位机是用两片ＤＳＰ芯片作为控制芯片构建两个１５５３Ｂ总线的终端，上
位机在计算机上用ＬａｂＶＩＥＷ 平台控制一块１５５３Ｂ的总线板卡，并且通过串口发送各种测试命令给下位机，共同完成对ＤＤＣ公司的ＢＵ
－６１５８０系列芯片的内部功能、总线协议功能及电气特性测试，对被测芯片处于ＢＣ、ＲＴ、ＭＴ三种不同类型终端时的各种功能与时序进
行直观显示；测试环境与芯片在实际运用中效果一样，可以对芯片进行筛选，成本低；通过在某单位实际应用表明，该测试系统具有测
试简单、功能全面、性能稳定的特点，系统还可自检，满足了用户的要求。
关键词：ＤＳＰ；１５５３Ｂ；ＢＵ－６１５８０；ＴＭＳ３２０Ｆ２８１２；ＬａｂＶＩＥＷ；芯片测试
