电子工程师技术服务社区
公告
登录
|
注册
首页
技术问答
厂商活动
正点原子
板卡试用
资源库
下载
文章
社区首页
问答
ADC过采样在实际测量中的影响
已解决
73482
个问题
已帮助
5993
位优秀工程师
ADC过采样在实际测量中的影响
donatello
2017-09-28
浏览量:933
显示全部
单片机
关注问题
写回答
0
0
收起
我来回答
上传资料:
选择文件
文件大小不超过15M(格式支持:doc、ppt、xls、pdf、zip、rar、txt)
最佳答案
great_CC
过采样可以提高adc的采样精度,但是就牺牲了采样速率。在以前受限于芯片制程工艺、设计水平、电路集成技术,可能过采样有意义。现在在信号高速采集处理的应用需求下,我觉得过采样实际用途已经不大了,毕竟如果需要精度就直接使用更高位数的ADC芯片。
发布于
2017-09-29
举报
评论 0
1
0
其他答案
数量:
2
US
给你举个sigma-delta调制器例子,在这方面可以提高adc的精度,但是采样速率就不那么快了
发布于
2017-09-28
举报
评论 0
0
0
great_CC
https://wenku.baidu.com/view/5aff77c02cc58bd63186bd99.html
发布于
2017-09-29
举报
评论 0
0
0
相关问题
问题达人
换一批
文章
知识经验换现金
换一批
ADC过采样在实际测量中的影响
写回答
关注问题
×
我要举报该内容,理由是:
内容质量差:
内容太水、伸手党
垃圾广告信息:
广告、招聘、推广、测试内容等
偏离问答主题:
与技术无关、讨论类
与社区已有内容重复:
违规内容:
色情、暴力、血腥、敏感信息等
不友善内容:
人事攻击、挑衅辱骂、恶意行为
以上选项都不是: